由于本次提供了切割工作件作為樣本，所以能夠拍攝到④?部位。但是，在產(chǎn)品狀態(tài)下的檢查中，如同以下照片所示，在檢查④?時，探頭的支架與工作件接觸，導(dǎo)致無法進行全長度的檢查。因此，我們擔(dān)心目標孔洞的全長度檢查可能無法進行
如果嘗試對④?進行與④?相同的檢查，工作件會與探頭的支架接觸。我們公司演示機的探頭長度為支架接觸，因此如果需要支架接觸的，這將需要特別定制。不過，我們認為通過將探頭長度增加到70mm，有可能實現(xiàn)對整個長度的檢查。但是，在圖紙上事先確認在產(chǎn)品狀態(tài)下是否可以進行檢查是必要的。我們嘗試了從另一側(cè)進行接近，但由于探頭長度僅為????，而從起始點到終點的距離約為????，因此拍攝非常困難。
我們嘗試了從另一側(cè)進行接近，但由于探頭長度僅為50mm，而從起始點到終點的距離約為80mm，因此拍攝非常困難。
我們讓激光光束在圓筒內(nèi)壁逐圈旋轉(zhuǎn)并照射，然后將反射回來的光轉(zhuǎn)化為數(shù)據(jù)。如果圓筒部分沒有缺陷，那么反射回來的光量將基本保持?致。但是，如果某處有凹凸不平，那么該處的光量就會發(fā)?變化。在我們的設(shè)備中，當(dāng)激光照射時，我們會將那些與周圍光量極端不同的區(qū)域視為缺陷，并根據(jù)預(yù)設(shè)的條件（如尺?等）?動進?判定。
這是一種統(tǒng)計方法。中位數(shù)本身意味著“中間值”。由于從工件反射回來的光量并非總是恒定的，因此必然會出現(xiàn)“波動”。為了
跟隨這種波動來判斷缺陷，我們會以中位數(shù)指定的寬度（mm）為單位來劃分數(shù)據(jù)，并將光量突出的部分判斷為缺陷候選。
·差分凹凸（Differential Irregularity）
我們將與周圍反射光量的偏離幅度稱為“差分”。例如，如果存在凹坑，那么該處會凹陷，因此與周圍相比，反射光量會減少，差
這是指將缺陷視為圓形時的短徑除以長徑的比例。比例越接近100%，表示缺陷的形狀越接近真圓。如果值為“負數(shù)”，則表示以
下條件： -25%意味著僅提取“針狀比25%以下（細長形狀） ”的缺陷。
這是指我們設(shè)備捕捉到的缺陷的尺寸和面積。
①X尺寸:0.30mm，Y尺寸:0.35mm2X尺寸:0.55mm，Y尺寸:0.40mm③X尺寸:0.35mm，Y尺寸:0.25mm4X尺寸:0.25mm，Y尺寸:0.30mm⑤X尺寸:0.30mm，Y尺寸:0.25mm6X尺寸:0.40mm，Y尺寸:0.25mm